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                      光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)

                      簡要描述:目前大多數共焦顯微鏡多為生物學研究設計,很多特點和功能偏離材料科學研究。PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)是專為材料光致發(fā)光測試而設計的。其功能實用,價位適中;激光光源,探測器類型以及光路設計采用光纖耦合,簡單易用,牢固可靠;標準化配置,可定制化改造;可改造顯微鏡適合深紫外激發(fā)到250nm;可以配置雙法測試,即同時配置TCSPC和FastFLIM。

                      • 產品型號:PL1
                      • 廠商性質:代理商
                      • 更新時間:2024-09-23
                      • 訪  問  量:3817

                      詳細介紹

                      目前大多數共焦顯微鏡多為生物學研究設計,很多特點和功能偏離材料科學研究。PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)是專為材料光致發(fā)光測試而設計的。其功能實用,價位適中;激光光源,探測器類型以及光路設計采用光纖耦合,簡單易用,牢固可靠;標準化配置,可定制化改造;可改造顯微鏡適合深紫外激發(fā)到250nm;可以配置雙法測試,即同時配置TCSPC和FastFLIM。

                      PL1光致發(fā)光時間分辨共焦顯微系統(tǒng)特點:

                      激發(fā)波長從深紫外266nm-1000nm可選;

                      光譜探測范圍:300nm-1700nm;

                      寬范圍時間壽命測量能力:標準100ps-100ms,頻域技術可低至10ps;

                      熒光強度和壽命成像可同時獲得(空間分辨率可達衍射極限低至250nm);

                      光學切面3D掃描,三維熒光壽命成像,分辨率低至50nm;

                      具有多功能檢測能力,可靈活選配冷熱臺、高壓控制附件等;

                      集成設計,具有靈活定制擴展能力,可滿足客戶不同研究領域靈活配置,提升研究效率;


                      應用方向:

                      材料科學研究
                      半導體材料表征
                      太陽能電池材料

                      晶體材料
                      其他光致發(fā)光材料


                      常規(guī)測量能力

                      強度和熒光壽命成像

                      光致發(fā)光共焦強度成像

                      光致發(fā)光共焦壽命成像,XYZ和T多維度,具有掃描和單點模式


                      FFS熒光變動光譜

                      熒光相關光譜(FCS)

                      光子計數直方圖(PCH)

                      熒光壽命相關光譜(FLCS)


                      單分子成像

                      Burst分析

                      單分子FRET熒光共振能量轉移分析


                      應用案例:

                      量子點:

                      上圖相量圖可獨立區(qū)分基體涂層量子點熒光壽命種類,直接從原始數據獲得。激發(fā)波長470nm,發(fā)射波長499-632nm(熒光),475/35nm(反射),掃描區(qū)域17.5μm×17.5μm。(Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette,IN;USA)


                      鈣鈦礦表征:

                      上圖是鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發(fā)光(熒光)強度。ISS VistaVisiontion提供最小化數據擬合算法和相矢量圖壽命分析;如,使用多圖相圖常規(guī)分析方法,不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數據相矢量圖立即獲取(無需數據擬合),使得熒光壽命分析更簡便和準確。激發(fā)波長488nm;發(fā)射光譜通過635nm長通濾波器;掃描區(qū)域:20μm×20μm。


                      納米粒子熒光上轉換:

                      上圖是上轉換納米粒子共焦壽命成像,包含高空間分辨率光致發(fā)光強度和壽命。激發(fā)波長980nm,發(fā)射波長509-552nm。掃描區(qū)域20μm×20μm。

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